与标准 LVDT 相比,XS-D 具有更大的位移范围,但实体长度和重量并未相应增加。 它采用特殊的统组技术,有效测量长度达本体长的 80%。紧凑、耐冲击和耐振动,并且具有无限分辨率和可重复性,XS-D 系列是伺服机构、线性电位计替换或任何在空间受限应用中需进行精确位移测量时的完美选择。
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